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「μ-X360 ポータブル型X線残留応力測定装置」



新製品詳細情報
 
X線応用分野 X-ray Application 光応用分野 Optical Application
残留応力、残留オーステナイト、半価幅を高速・高精度に測定できる「ポータブル型X線残留応力測定装置」をご紹介します。
レーザ光源・ナノ加工・三次元計測・3Dスキャナ・非接触座標測定機・光学部品の評価、解析等の光応用製品をご紹介します。
光ディスク関連分野 Optical Discs Related 展示会案内 Exhibition Guidance
次世代光ディスク・光ピックアップ等の評価・検査・調整装置等をご紹介します。
お客様へのソリューション提案を目的とし展示会を開催しています。
新製品のご案内
 
2014年06月13日 TDS-L 三次元スキャナ(3Dスキャナ)シリーズ
2014年04月28日 HM-1000 非接触 透明体厚み・うねり計測装置
2014年03月07日 PWS-500 小型高速波面センサ
2012年08月08日 μ-X360 ポータブル型X線残留応力測定装置
2012年01月19日 LUCAS-NuK ナノうねり計測ユニット
2010年10月15日 SER-1000 SER(Viterbi)チェッカDC-1000 ディスクチェッカWR-1000 BDライタ
2009年08月28日 MASTERシリーズ Blu-rayスタンパ評価機
2009年07月09日 ディスクチェッカ HR-1000
2009年04月22日 パルソーラー照明灯 02シリーズ
2008年10月23日 PAL-100 光ピックアップ評価装置(解析用/品質管理用)
O-PAS 100 光ピックアップ検査装置(量産用)
光ピックアップ電気式調整機
2008年10月10日 SHOT-1000B コリニアホログラフィックメディア評価システム
2008年07月04日 LUシリーズ 半導体レーザ平行光源ユニット
2008年05月13日 LUCAS レンズユニット波面計測システム
2006年12月01日 DDM-10/10A DVDデータチェッカ
    SHOT-500GP 二光束干渉法ページデータ記録・再生評価装置
2006年10月01日 BD/HD MASTER ディスク評価装置
    SU-LT1光ピックアップ評価装置
 
製品案内パンフレット
下記より、製品案内パンフレットをご覧いただけます。
 
NEW   2017年度版に更新しました。
PDF 製品案内パンフレット (505KB)
 

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