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 Photonix 2013(第13回光・レーザー総合技術展) 出展のご案内

 展示会 Photonix 2013(第13回光・レーザー総合技術展)

会期中は多数のご来場ありがとうございました。
製品に関するお問い合わせは、どうぞお気軽にお寄せ下さい。
開催日

2013年4月10日(水)〜12日(金)
10:00〜18:00(最終日は17:00まで)

場所
東京ビッグサイト
展示製品
光学レンズ透過波面計測装置 PWS-1000
オートトラッキングOCTスキャナ HM-1000
タッチパネルパターン欠陥検査装置  SA-ITO-100

コンセプト

『Photonix 2013』(第13回光・レーザー総合技術展)は、日本最大の光・レーザ総合技術展で、『光通信』、『レーザ加工』、『オプティクス&光センシング』の3つの専門展が同時開催されます。

当社は、次の製品を出展します。
@光学レンズ透過波面計測装置 『PWS-1000』
  高速シャックハルトマンセンサにより、光学レンズなどの透過波面収差を高速に計測する装置です。

AオートトラッキングOCTスキャナ 『HM-1000』
  光干渉断層像(OCT)技術を応用して、ガラスや樹脂などの透明体の断層を非破壊で計測する装置です。

Bタッチパネルパターン欠陥検査装置 『SA-ITO-100』
  タッチパネル等の透明電極(ITO)パターンを自動撮影し、パターン欠陥を瞬時に判別する装置です。

当社は、光ディスク評価で培った高度な光応用技術により、お客様が抱える課題解決のお役に立ちたいと考えております。
特に光計測でお困りのお客様、課題やテーマをお持ちのお客様、まずは当社にご相談ください。専門スタッフが、課題解決のための最善の改善策をご提案します。

(小間番号 19-32)にて、お待ち申しあげておりますので、お気軽にお立ち寄りください。

展示会URL http://www.photonix-expo.jp/
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