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トップページ > 新着情報履歴 >  第26回日本国際工作見本市 26th JAPAN INTERNATIONAL TOOL FAIR (JIMTOF 2012)出展のご案内
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 第26回日本国際工作見本市
26th JAPAN INTERNATIONAL TOOL FAIR (JIMTOF 2012) 出展のご案内

 展示会 第26回日本国際工作見本市
26th JAPAN INTERNATIONAL TOOL FAIR (JIMTOF 2012)

会期中は多数のご来場ありがとうございました。
製品に関するお問い合わせは、どうぞお気軽にお寄せ下さい。
開催日
2012年11月1日(木)〜11月6日(火) 9:00〜17:00
場所
東京ビッグサイト
展示製品 CMM:三次元測定機用三次元スキャナ TDS-1622H
CMM 三次元測定機用に開発された、高速・高精度の三次元スキャナです。TDS-Hは三次元測定機用スキャナとしては唯一の国内製で、三次元測定機のメーカ、機種を問わず搭載する事が可能(三次元測定機メーカ様との協業になります)です。 また、PULS-G同様に光沢面や黒色の被検査物にも強く、高精度(総合精度:0.02mm)な計測ができます。
この三次元スキャナは、お客様が既にお持ちの三次元測定機にも後付けできますので、お気軽にお問合せください。
※(株)東京精密様ブースに出展します。(ブースNo.W3018)
※(株)ミツトヨ様ブースに出展します。(ブースNo.W3021)
多関節三次元測定機用三次元スキャナ PULS-G
多関節三次元測定機「ベクトロン」用に開発された、高速・高精度の三次元スキャナです。「ベクトロン」との融合により、広範囲(〜3m)なエリアを高精度(総合精度:0.08mm)に計測することができます。また、光沢面や黒色の被検査物でも、スプレーを塗布することなく計測できますので、生産現場でのムダを削減できます。
※(株)小坂研究所様ブースに出展します。(ブースNo.W3041)
工作機械用非接触レーザスキャナ TDS-Aシリーズ
「非接触加工前ワーク形状計測システム」を展示します。このシステムは、工作機械の主軸に非接触三次元スキャナを装着し、加工前のワーク形状を測定することで、エアーカット時間の大幅削減を実現するものです。
※ORiN協議会 一般財団法人機械振興協会技術研究所ブースに出展します。(ブースNo.E4037)
ポータブル型X線残留応力測定装置 μ-X360
機械金属製品・部品の加工工程で付与される残留応力を非破壊で測定する装置です。μ-X360は単一入射法採用で計測時間の短縮、X線の低出力化、空冷による省電力を実現し、小型軽量化により、これまで計測が困難であった大型の部品・構造物のオンサイト測定が可能です。
※山田マシンツール(株)様ブースに出展します。(ブースNo.W2001)
スタッフ一同、皆さまのご来場を心よりお待ち申し上げています。
製品および出展に関するお問い合わせはどうぞお気軽にお寄せください。
展示会URL http://www.jimtof.org/jap/index.aspx
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