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 第41回 インターネプコン ジャパン 出展のご案内

 展示会 第41回 インターネプコン ジャパン

会期中は多数のご来場ありがとうございました。
製品に関するお問い合わせは、どうぞお気軽にお寄せ下さい。
開催日
2012年1月18日(水)〜1月20日(金) 
10:00〜18:00 (1月20日は17:00まで)
場所
東京ビッグサイト
展示ホール 東 5 ホール
コンセプト 『静岡から未来へ 〜“光WAZAのご提案”〜』というテーマで、最新の光計測技術を応用した画期的な新製品をご提案します。
展示製品 DUV対応高速波面センサ PWS‐1000 DUV
Deep UV領域(190〜400nm)のLDやLEDなどの各種光源の波面収差や光学レンズ、光学素子等の透過・反射波面収差計測用の高速波面センサです。
ダイナミックレンジを広くし、干渉計では計測困難であった大きな収差も計測することができます。
小型・軽量であるため、様々な機器への組込みも容易です。
ナノうねり計測ユニット LUCAS-NuK
半導体ウェーハやLEDウェーハ、ガラス表面などの「うねり」をナノオーダーの分解能でリアルタイム計測することができます。
白色干渉計では計測が困難であった「うねり」を、一度に計測することができます。
小型・軽量であるため、様々な機器への組込みも容易です。
展示会URL http://www.nepcon.jp/
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